產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測(cè)試儀
GDW-250電阻高溫度特性測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)
NLD-AI全自動(dòng)高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測(cè)試儀
GEST-121體積表面電阻測(cè)定儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
NDH-B耐電弧試驗(yàn)儀-微機(jī)控制
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心比表面測(cè)試儀201A-比表面儀孔徑分析儀
product
產(chǎn)品分類(lèi)
測(cè)孔隙比表面孔徑分析測(cè)量?jī)x器，借助于氣體吸附原理（典型為氮?dú)猓?、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。
更新時(shí)間：2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào)：BETA201A
瀏覽量：998
BETA比表面積及孔徑測(cè)試儀。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。可以進(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，并可以升級(jí)進(jìn)行DFT密度函數(shù)理論；包括NLDFT理論等
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA201A瀏覽量：844
BETA活性炭的比表面積分析儀。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析?？梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，并可以升級(jí)進(jìn)行DFT密度函數(shù)理論；包括NLDFT理論等
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA201A瀏覽量：1048
201A活性炭比表面積孔徑分析儀。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析?？梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，并可以升級(jí)進(jìn)行DFT密度函數(shù)理論；包括NLDFT理論等
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA201A瀏覽量：792
BETA靜態(tài) 比表面積及孔徑分析儀。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析，以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析?？梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，并可以升級(jí)進(jìn)行DFT密度函數(shù)理論；包括NLDFT理論等
更新時(shí)間：2025-01-02產(chǎn)品型號(hào)：BETA201A瀏覽量：818